產(chǎn)品詳細(xì)資料

MDRCK有載開關(guān)參數(shù)測試儀  的詳細(xì)介紹

MDrck有載開關(guān)參數(shù)測試儀

一、概述

有載分接開關(guān)是與變壓器回路連接的*運(yùn)動部件，因此有載分接開關(guān)的檢測，越來越引起重視。在《電力設(shè)備交接和預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程》中，要求檢查有載分接開關(guān)的動作順序，測量切換時間等。本變壓器有載分接開關(guān)參數(shù)測試儀器，主要用于測量變壓器有載分接開關(guān)的過渡波形、過渡時間、各瞬間過渡電阻值、三相同期性等。

儀器智能化程度高，全部中文菜單提示，操作簡單。儀器體積小、重量輕、抗干擾能力強(qiáng)，大大減輕了現(xiàn)場工作人員的勞動強(qiáng)度，是發(fā)、供電單位，變壓器制造行業(yè)保障安全生產(chǎn)，提高產(chǎn)品質(zhì)量的理想儀器。

二、安全措施

1、使用本儀器前一定要認(rèn)真閱讀本手冊。

2、儀器的操作者應(yīng)具備一般電氣設(shè)備或儀器的使用常識。

3、本儀器戶內(nèi)外均可使用，但應(yīng)避開雨淋、腐蝕氣體、塵埃過濃、高溫、陽光直射等場所。

4、儀器應(yīng)避免劇烈振動。

5、對儀器的維修、護(hù)理和調(diào)整應(yīng)由專業(yè)人員進(jìn)行。

6、在測試過程中，禁止移動測試夾和供電線路。

三、性能特點(diǎn)

1、儀器輸出電流大，重量輕。

2、儀器輸出開路電壓28V，在1A檔的電流下可以測試10Ω的過渡電阻，并設(shè)有0.5A、0.3A檔，方便測試更大的過渡電阻。

3、具有完善的保護(hù)電路，可靠性強(qiáng)。

4、立式機(jī)箱結(jié)構(gòu)，5.7寸的大液晶顯示，便于現(xiàn)場操作。

5、具有U盤存儲功能，可以存儲更多數(shù)據(jù)波形。

四、技術(shù)指標(biāo)

1、輸出電流：1.0A、0.5A、0.3A、三檔可選。

2、電阻量程：1.0A檔 0.1～10Ω；0.5A檔 5～20Ω；0.3A檔 10～40Ω。

3、電阻測量精度：±(讀數(shù)×5%+5個字)，分辨率：0.01Ω。

4、過渡時間測量范圍：1～250mS。

5、過渡時間測量精度：±1mS，分辨率：0.1mS。

6、采樣頻率：10K。

7、存儲方式： U盤存儲、本機(jī)存儲。

8、工作溫度：-20℃～+50℃。

9、環(huán)境濕度：≤90%RH，無結(jié)露。

10、工作電源：AC220V±10%，50Hz±10%。

五、系統(tǒng)介紹

1、電源開關(guān)：整機(jī)電源輸入口，帶有交流插座，保險(xiǎn)倉和開關(guān)。

2、U盤接口：外接U盤用。

3、232串口：串口通訊和裝置升級用。

4、接地柱：為整機(jī)外殼接地用。

5、電流輸出端子：Ia、Ib、Ic、Io分別對應(yīng)變壓器的A、B、C、N。

6、電壓輸入端子：Ua、Ub、Uc、Uo分別對應(yīng)變壓器的A、B、C、N。

7、顯示器：320×240點(diǎn)陣液晶顯示器。

8、打印機(jī)：熱敏打印機(jī)，打印測試結(jié)果。

9、按鍵：操作裝置用。“復(fù)位”鍵：使裝置整機(jī)復(fù)位，恢復(fù)到上電狀態(tài)；“↑↓”鍵：移動光標(biāo)或修改數(shù)據(jù)(在波形分析菜單中為選擇標(biāo)尺)；“←→”鍵：選擇移動(在波形分析菜單中為標(biāo)尺移動)；“確認(rèn)”鍵：確認(rèn)當(dāng)前操作；“取消”鍵：放棄當(dāng)前操作。

六、測試與操作方法

操作時需注意事項(xiàng)：

?使用前，儀器的接地端子必須接好地線。

?測試過程中，不允許拆除測試線。

?帶繞組測試時，變壓器的非測試端應(yīng)三相短路接地。

?如果選擇將數(shù)據(jù)存儲至U盤或查詢U盤中的存儲數(shù)據(jù)，請將U盤插入“U盤接口”，并在向U盤存儲或查詢數(shù)據(jù)過程中不允許拔掉U盤。

1、待機(jī)界面

儀器上電開機(jī)，動態(tài)顯示公司圖標(biāo)，停留數(shù)秒后進(jìn)入待機(jī)界面(見圖2)。

此時顯示儀器型號名稱、系統(tǒng)運(yùn)行時間、公司名稱、儀器編號(此處顯示為示例)，Ver(版本號：儀器的軟件版本號)。

2、主菜單

在待機(jī)界面下按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入儀器“主菜單”(見圖3)。

3、參數(shù)設(shè)置

在主菜單下按“↑↓”鍵選擇“參數(shù)設(shè)置”項(xiàng)，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入“參數(shù)設(shè)置”菜單

按“←→”鍵選擇需要修改的參數(shù)選項(xiàng)，按“↑↓”鍵修改選擇的參數(shù)。按“確認(rèn)”鍵確認(rèn)當(dāng)前設(shè)置。按“取消”鍵放棄當(dāng)前設(shè)置。

?開關(guān)編號：為了記錄方便，可為實(shí)驗(yàn)的開關(guān)設(shè)置一個編號。

?測量方式：分為有繞組，無繞組。

?分 接 位：實(shí)際開關(guān)的分接位，便于形成測試報(bào)告。按“↑”鍵，分接位號由低到高依次變化，如此時是“01－02”，按“↑”鍵一次變?yōu)?ldquo;02－03”，如此時是“02－01”，按“↑”鍵一次變?yōu)?ldquo;01－02”，依此類推；按“↓”鍵則相反。

?測試電流：選擇輸出電流大小，有1.0A、0.5A、0.3A三檔可供選擇。

?測試靈敏度：用來設(shè)置開關(guān)動作時的測試靈敏度，默認(rèn)為10，如果測量時還沒啟動開關(guān)就顯示了波形時，則為靈敏度太高，提高“測試靈敏度”的值來降低靈敏度，如果有載開關(guān)已經(jīng)動作完畢，儀器還沒有觸發(fā)，則為靈敏度太低，降低“測試靈敏度”的值來提高靈敏度。一般情況下默認(rèn)值即可。

4、測量開關(guān)動態(tài)參數(shù)

在主菜單下按“↑↓”鍵選擇“測量開關(guān)動態(tài)參數(shù)”項(xiàng)，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入“測量開關(guān)

動態(tài)參數(shù)”菜單(見圖5)。(此菜單下“測試靈敏度”和“分接位”項(xiàng)是可以選擇修改的。分接位號隨著測量自動變化。)

（1）帶繞組測試方法

1）拆去被測變壓器的三側(cè)引線，將非測試端（通常為中壓側(cè)、低壓側(cè)）分別三相短路接地。儀器在關(guān)機(jī)狀態(tài)下，將測試鉗黃、綠、紅、黑依次夾到被測變壓器的調(diào)壓側(cè)（通常為高壓側(cè)）套管的A、B、C三相和中性點(diǎn)上，然后將測試線另一端的一組黃、綠、紅、黑線分別接在儀器的Ia、Ib、Ic、Io端子上；另一組黃、綠、紅、黑線分別接在儀器的Ua、Ub、Uc、Uo端子上。

2）確認(rèn)以上接線無誤后，開機(jī)，進(jìn)行完參數(shù)設(shè)置后選擇進(jìn)入“測量開關(guān)動態(tài)參數(shù)”菜單(見圖5)。

按“←→”鍵選擇“分接位”或“測試靈敏度”。按“↑↓”鍵，更改“分接位”（更改方法和“參數(shù)設(shè)置”菜單一樣）或“測試靈敏度”。此時，中間分別有三組數(shù)據(jù)在變化。因?yàn)閮x器對繞組和開關(guān)有一個充電的過程，所以數(shù)字會從大到小變化，待三相數(shù)值都穩(wěn)定后，再按“確認(rèn)”鍵，屏幕中間顯示“可以啟動開關(guān)動作” （見圖6），此時可手動或電動操作開關(guān)（此時除“復(fù)位”鍵外，任何按鍵不起作用），動作完畢后，液晶屏自動顯示出動作波形 （見圖7）。  在“動作波形”菜單下，上面顯示的是儀器自動計(jì)算出的過渡電阻值，可供用戶參考，中間從上到下三個區(qū)域分別顯示的是A、B、C三相的動作波形，波形的右下角顯示的是儀器自動計(jì)算的過渡時間，可供用戶參考（如果有載開關(guān)不同期，自動顯示的過渡時間誤差較大，用戶應(yīng)自行分析過渡時間和過渡電阻）。下部分顯示的是操作菜單，此時可以按“←→”鍵選續(xù)測量”、“波形分析”、“波形操作”、“波形存儲”、“波形打印”項(xiàng)，按“確認(rèn)”健進(jìn)入相應(yīng)選項(xiàng)。當(dāng)選擇“繼續(xù)測量”后，儀器自動進(jìn)入“測量開關(guān)動態(tài)參數(shù)（圖5）”項(xiàng)繼續(xù)進(jìn)行測量。

在每條曲線下面有一條水平直線是零電流線，當(dāng)切換過程中有斷點(diǎn)時，曲線將與零電流線重合。此時就可以對所測的波形和數(shù)據(jù)進(jìn)行分析和處理了（具體方法見“數(shù)據(jù)分析及處理”）。對于M型和T型開關(guān)，其切換開關(guān)總是在單雙之間作往返動作，所以測一次單到雙（如1－2），再測一次雙到單（如2－3）即可。對于V型開關(guān)，它是復(fù)合式的，其動觸頭與每一分接位的靜觸頭的切換都不重復(fù)，上行和下行也有區(qū)別，狀態(tài)也就略有差異。因此要從1分接位開始連續(xù)測完所有分接位（1－n），再反向測完所有分接位（n－1）。

3）數(shù)據(jù)分析及處理

?選擇進(jìn)入“波形分析”菜單

用戶自行分析波形的過渡時間、過渡電阻值、瞬時電阻值、三相不同期性。在“波形分析”菜單下，按“↑↓”鍵選擇標(biāo)尺，t1為左面的標(biāo)尺，t2為右面的標(biāo)尺。按“←→”鍵移動所選的標(biāo)尺，兩標(biāo)尺在移動過程中不能相互穿越只能重合。上面的電阻值為標(biāo)尺之間的平均電阻值（兩標(biāo)尺重合后為標(biāo)尺所在位置的瞬時電阻值），左下面的ΔT為兩標(biāo)尺之間的時間，下面的電阻值為t2標(biāo)尺所在位置所指示的瞬時電阻值。

儀器可測量打印出兩標(biāo)尺間的平均電阻值（在打印菜單稱為過渡電阻值）的功能。對于A相波形，調(diào)整兩標(biāo)尺，使之位于在波形中電流通過限流電阻的那一段（通常為低點(diǎn)位置的平滑處），這時上方顯示的電阻值即為兩標(biāo)尺之間的平均電阻值，這時按“確認(rèn)“鍵，彈出打印菜單，即可選擇打印A相的過渡電阻值；B相、C相和A相的測量、打印原理相同。儀器可打印出t2標(biāo)尺所在位置的瞬時電阻值，基本原則是：要看哪一點(diǎn)的電阻值，就把t2標(biāo)尺移動到那一點(diǎn)。如想測量、打印A相瞬時電阻值，可將t2標(biāo)尺移動到想要測量的位置，這時下方顯示的電阻值即為t2標(biāo)尺所在位置的瞬時電阻值，這時按“確認(rèn)“鍵，彈出打印菜單，即可選擇打印A相的瞬時電阻值；B相、C相和A相的測量、打印原理相同。當(dāng)波形有抖動時，應(yīng)盡可能找比較平直段。

測電阻時還應(yīng)注意，M型有一些是并聯(lián)雙斷口結(jié)構(gòu)，這時測試的電阻值是銘牌標(biāo)定值的1/2。如用1A檔測量時，當(dāng)波形出現(xiàn)過零點(diǎn)且持續(xù)2ms以上時，可換成0.5A檔或0.3A檔測。如果用0.5A檔或0.3A檔測，阻值也超過儀器測量范圍，很可能存在接觸不良或有松動處，此時應(yīng)慎重對待多測幾次。

調(diào)節(jié)兩標(biāo)尺的位置，將t1標(biāo)尺移至A相波形的起點(diǎn)（即波形開始下降的點(diǎn)），t2標(biāo)尺移至A相波形的終點(diǎn)（即波形后向上升起的拐點(diǎn)），此時顯示屏左下方的Δt數(shù)值即為A相波形的過渡時間，此時按“確認(rèn)”鍵彈出打印菜單，即可選擇打印A相的過渡時間；同理，根據(jù)B、C相波形的起點(diǎn)、終點(diǎn)調(diào)整兩標(biāo)尺的位置，再分別打印出B、C相波形的過渡時間。確定時間的基本原則是：起始時間從曲線向下的拐點(diǎn)開始；結(jié)束時間從曲線后一個向上的拐點(diǎn)終止

整個動作過渡時間為t1、t2、t3之和。三相有載分接開關(guān)的切換不同期，規(guī)程并沒有明確規(guī)定。一般不大于5ms。但如果是一臺開關(guān)三相并聯(lián)當(dāng)一相用，這臺開關(guān)的三相不同期一般要求2－3ms。可以按下述方法測量：假設(shè)測到一臺開關(guān)波形

可以先把t1標(biāo)尺移到A相起始位，再把t2標(biāo)尺移到B相起始位，此時顯示屏左下的Δt顯示的為兩標(biāo)尺間的時間，也即A相比B相早的時間，按“確認(rèn)”鍵，彈出打印菜單，即可選擇打印AB相不同期性，此時打印的數(shù)據(jù)即A相比B相早的時間。同理可測量打印出BC相、AC相的不同期性。（注：在波形分析菜單中，按“確認(rèn)”鍵彈出打印菜單，在打印菜單中按“←→”鍵選擇要打印的選項(xiàng)，按“取消”鍵返回波形分析菜單）。

?選擇進(jìn)入“波形操作”菜單。在此菜單下可將波形放大、縮小、移動。

?選擇進(jìn)入“波形存儲”菜單

在此菜單下，可選擇將波形存儲至U盤或存儲至本機(jī)。存儲至U盤：可存儲100條波形，存儲位置為00－99，可由用戶自行選擇（注：如兩次選擇的存儲位置相同，則將上一次的存儲信息覆蓋掉）。存儲至本機(jī)：可存儲64條波形，存儲位置為00－63，存儲位置由儀器自動，用戶不可修改（注：存儲模式為循環(huán)存儲，即存滿之后又從*條開始存儲）。

?選擇“波形打印”項(xiàng)，按“確認(rèn)”鍵開始進(jìn)行波形打印。此時可將波形測量信息及動作波形*打印出來。

（2）無繞組測試方法

將測試線黃、綠、紅測試鉗分別接到調(diào)壓開關(guān)X1（A1）、Y1（B1）、Z1（C1）上，并用短路線分別接到對應(yīng)的X2（A2）、Y2（B2）、Z2（C2）上，黑色測試鉗接到中性點(diǎn)上，測試線的另一端分別接到儀器對應(yīng)的端子上。主菜單“參數(shù)設(shè)置”修改測試方式為“無繞組”，其余操作步驟同有繞組測試步驟相同。帶繞組測試與不帶繞組測試相比較，前者的動作時間長，約3-7 ms。

注意：A、B、C三相動觸頭短接后接到儀器的中性點(diǎn)接線端子上。

（3）調(diào)壓側(cè)繞組Y型接線中性點(diǎn)沒有引出的變壓器的測試方法

這種結(jié)構(gòu)的試品在不吊芯情況下，中性點(diǎn)無法引出，只好每兩相一測試，例如測A、B兩相，接線方法如圖12所示，把C相當(dāng)作中性點(diǎn)， 操作步驟和帶繞組測試方法相同，只是在液晶屏上一次只顯示兩組波形和數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)的分析和有中性點(diǎn)引出的變壓器的分析方法相同，只是過渡電阻值需要換算：設(shè)測量值為R’，實(shí)際值為R，則兩相測量時R＝1/3R’（如單相測量時則R＝1/2R’）。待A、B相測完以后，可以再把A相當(dāng)作中性點(diǎn)，測量B、C相，或者把B相當(dāng)作中性點(diǎn)，測量A、C相。其接線方法和數(shù)據(jù)分析均相同。

（4）調(diào)壓側(cè)繞組Δ型接線的變壓器的測試方法：

測試接線方法同圖12，操作步驟和數(shù)據(jù)的分析同其它變壓器測試方法一樣，只是過渡電阻值需要換算：設(shè)測量值為R’ ，實(shí)際值為R，則兩相測量時R＝R’，單相測量時R=3/2 R’。

5、測量開關(guān)靜態(tài)參數(shù)

可測量開關(guān)的靜態(tài)阻值。選擇進(jìn)入“測量開關(guān)靜態(tài)參數(shù)”菜單，待數(shù)值穩(wěn)定后按“確認(rèn)”鍵鎖定數(shù)值，此時再按“確認(rèn)”鍵打印出當(dāng)前靜態(tài)電阻值。

6、存儲波形查詢

可查詢存儲在U盤或本機(jī)的存儲波形。選擇進(jìn)入“存儲波形查詢”菜單，此時按“←→”鍵選擇查詢對象為U盤或本機(jī)（在選擇“本機(jī)波形查詢”時，儀器可自動顯示出當(dāng)前的存儲位置有無波形信息，選擇“U盤波形查詢”時無此功能），按“↑↓”鍵選擇要查詢對象的存儲編號，按“確認(rèn)”鍵調(diào)出要查詢的波形(如有波形，則進(jìn)入到圖7顯示的動作波形菜單，如沒有存儲信息，儀器給予提示)。

7、時鐘設(shè)置

對儀器的時鐘進(jìn)行設(shè)置。操作方法和“參數(shù)設(shè)置”菜單類似。

8、通訊設(shè)置

儀器升級通訊用(備用，用戶不可操作)。

9、廠家設(shè)置

廠家對儀器進(jìn)行必要的設(shè)置(用戶不可操作)。

10、裝置信息

介紹公司信息、公司及銷售、。

七、常見波形分析

1.可以看出，橋接前時間過長，已達(dá)50ms（是正常時間的三倍），并且不止是一相，而是三相差不多。這是典型的快速機(jī)構(gòu)儲能彈簧老化，速度變慢。

2．可以看到A相從單到雙（3-4）和雙到單（4-3）有對稱的過零段，是在單數(shù)側(cè)，且過渡電阻值從儀器上觀察遠(yuǎn)大于20Ω（對于0.5A檔超過20Ω可以看成開路）。這是典型的過渡電阻缺陷。吊檢后發(fā)現(xiàn)單數(shù)側(cè)過渡電阻已斷裂。

3．這個波形是由于開始測試時，測試靈敏度選的比較高，又是由3-2方向（電感量增加）容易引起震蕩。適當(dāng)降低靈敏度由1-n方向測試結(jié)果正常。

4．A相波形較亂，測出的過渡電阻值僅0.3-0.5Ω，而且從1-7均如此。 吊檢發(fā)現(xiàn)A相切換開關(guān)引出線軟連接有斷股，造成A相過渡電阻被短接（未接死）。現(xiàn)場處理后，波形正常。

八、儀器常見故障及原因

1．CPU板故障可能出現(xiàn)的波形

處理辦法：更換CPU板

2．儀器供電電壓過低可能出現(xiàn)的波形

3．儀器自激振蕩可能出現(xiàn)的波形

處理辦法：試品充分放電后，由1-n方向測試，非測試?yán)@組良好的短路接地；必要時調(diào)整儀器的測試靈敏度。

九、售后服務(wù)

1、凡購本公司產(chǎn)品隨機(jī)攜帶產(chǎn)品保修單，訂購產(chǎn)品交貨時，請當(dāng)場檢驗(yàn)并填好保修單。

2、自購機(jī)之日起，憑保修單保修二年，終身維護(hù)。在保修期內(nèi)，維修不收維修費(fèi)；保修期外，維修調(diào)試收取適當(dāng)費(fèi)用。

3、屬下列情況之一者不予保修：

1）用戶對儀器有自行拆卸或?qū)x器工藝結(jié)構(gòu)有人為改變。

2）因用戶保管或使用不當(dāng)造成儀器的嚴(yán)重?fù)p壞。

3）屬于用戶其它原因造成的損壞。